一种用于纳米直线电机的耐久测试系统及测试方法

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一种用于纳米直线电机的耐久测试系统及测试方法
申请号:CN202510638218
申请日期:2025-05-19
公开号:CN120595105A
公开日期:2025-09-05
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种用于纳米直线电机的耐久测试系统,包括:激光测距系统,用于测量纳米直线电机的位移数据;电压传感器和电流传感器,分别用于测量纳米直线电机的供电电压和电流;嵌入式系统用于采集纳米直线电机的位移数据、电压和电流数据,且通过CAN总线通信模块对纳米直线电机进行控制;云平台,用于接收、存储、处理嵌入式系统采集到的位移、电压、电流数据,并基于深度学习算法实现故障诊断和寿命预测,生成分析报告。本发明能够同时测量多台纳米直线电机,通过嵌入式系统和云平台的结合,实现了对纳米直线电机运行状态的实时监控和远程控制,实现纳米直线电机的故障诊断和寿命预测,无需测试人员现场值守,降低了人力成本。
技术关键词
纳米直线电机 耐久测试系统 CAN总线通信模块 嵌入式系统 激光测距系统 深度学习算法 剩余使用寿命 云平台 激光测距传感器 耐久测试方法 电压传感器 电流传感器 监控电机运行状态 寿命特征 训练集数据 深度学习模型 数据存储模块 无线通信模块
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沪ICP备2023015588号