原子尺度双层二维纳米材料基态堆叠构型的识别方法

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原子尺度双层二维纳米材料基态堆叠构型的识别方法
申请号:CN202510639442
申请日期:2025-05-16
公开号:CN120564894A
公开日期:2025-08-29
类型:发明专利
摘要
原子尺度双层二维纳米材料基态堆叠构型的识别方法,涉及二维纳米材料领域。本发明的目的是为了解决以往识别基态构型的方法,准确性差的问题。对任意两个单层二维纳米材料的晶格失配率进行计算,并对晶格失配率大的两个单层进行匹配,再对匹配后的两个单层二维纳米材料的晶格选取滑移距离、滑移角度和层间距,每个滑移距离、滑移角度和层间距构成一个完整堆叠构型,去除多个完整堆叠构型中重复的完整堆叠构型,再对剩余的完整堆叠构型进行几何优化处理,计算优化后的每个完整堆叠构型的总能,将优化后的多个完整堆叠构型的总能由低至高排序,选取第一个堆叠构型作为基态堆叠构型。本发明用于准确识别基态堆叠构型。
技术关键词
二维纳米材料 堆叠构型 单层 二维纳米结构 层间距 识别方法 GPR模型 笛卡尔坐标系 周期性 训练集 算法 数据 曲线 参数 尺寸
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