一种基于平场超表面透镜的光学相干断层成像方法

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正文
推荐专利
一种基于平场超表面透镜的光学相干断层成像方法
申请号:CN202510642502
申请日期:2025-05-19
公开号:CN120522134A
公开日期:2025-08-22
类型:发明专利
摘要
一种基于平场超表面透镜的光学相干断层成像方法,通过相位优化设计,构建具备大角度扫描成像的平场超表面透镜,融合基于迈克尔逊干涉仪的频域光学相干断层成像系统。采用1300 nm为中心波长的近红外光源,利用光纤环型器、光纤分束器等,一束准直光入射到参考臂上,另一束光则通过平场超表面透镜汇聚到待测样品上,最后两束光返回后发生干涉,通过光谱仪采集干涉光谱信号,重建高分辨率光学相干断层成像。有别于传统光学透镜通过光的折射效应实现聚焦,平场超表面透镜主要通过光的衍射效用来实现聚焦,通过相位优化排布,采用粒子群优化算法,最终实现聚焦光斑尺寸的缩小,从而获取更小的横向光学点扩散函数。
技术关键词
光学相干断层成像 聚焦光斑尺寸 粒子群优化算法 光纤分束器 点扩散函数 迈克尔逊干涉仪 超表面透镜 准直光 光谱仪 光学透镜 分辨率 波长 光源
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