基于Java分布式架构的缺陷检测方法及系统

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推荐专利
基于Java分布式架构的缺陷检测方法及系统
申请号:CN202510642568
申请日期:2025-05-19
公开号:CN120162274B
公开日期:2025-07-29
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种基于Java分布式架构的缺陷检测方法及系统,该方法包括:利用流处理引擎从边缘服务器的消息队列中获取产品图像数据,并调用预设混合算法确定出产品图像数据对应的缺陷识别结果,其中,产品图像数据是由至少一个图像采集设备采集后经格式转换得到,缺陷识别结果用于表征识别出的缺陷类型和缺陷类型对应的置信度;利用规则引擎获取预设匹配规则,并基于预设匹配规则对缺陷识别结果进行规则匹配,得到缺陷检测结果,其中,预设匹配规则用于表征缺陷类型对应的置信度阈值。这样可以并行地对边缘服务器的消息队列中的产品图像数据进行缺陷识别和规则匹配,从而提高了缺陷检测速度,能够较好地匹配产线高速生产需求。
技术关键词
服务集群 图像采集设备 置信度阈值 分布式架构 缺陷检测方法 感兴趣区域图像 混合算法 标准化接口 原始图像数据 服务器 队列 节点 消息 中间件 边缘检测 镜像仓库
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