一种软件缺陷预测方法、电子设备及存储介质

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正文
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一种软件缺陷预测方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202510647275
申请日期:2025-05-20
公开号:CN120448276A
公开日期:2025-08-08
类型:发明专利
摘要
本发明实施例公开了一种软件缺陷预测方法、电子设备及存储介质。该方法包括:获取待预测软件的源代码以及与所述待预测软件对应的目标功能,其中,所述目标功能是需求所述待预测软件具备的功能;从所述源代码中,确定与所述目标功能关联的目标代码,并根据所述目标功能,对所述目标代码进行缺陷预测,得到代码缺陷情况;根据所述代码缺陷情况,预测所述待预测软件的软件缺陷情况。本发明实施例的技术方案,提高了软件缺陷预测的效率和精度。
技术关键词
代码缺陷 软件缺陷预测方法 抽象语法树 序列 节点 语义 电子设备 可读存储介质 计算机 标识 处理器通信 分词 存储器 指令 入口 精度
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