一种芯片验证方法、装置、设备及介质

本发明公开了一种芯片验证方法、装置、设备及介质。该方法包括：获取当前命令序列，当前命令序列包括至少一个命令；将当前命令序列输入到待测设计，并采集待测设计针对各命令输出的命令准备状态位的状态属性值；针对各命令，将命令的命令准备状态位的状态属性值与命令准备状态位的真值属性值进行比较，得到状态比较结果；其中，根据状态比较结果，对待测设计进行功能验证。本发明实施例可以提高芯片验证的准确率。