一种面向工业缺陷检测场景下的微小目标检测方法

本发明提供一种面向工业缺陷检测场景下的微小目标检测方法，涉及微小目标检测方法技术领域。首先建立一种新型的针对微小缺陷目标的检测框架SLA‑YOLO，对微小缺陷图像切片处理ISP；构建T‑YOLO模型，并将得到的切片图像Pi被全部输入到T‑YOLO模型进行训练，然后进行检测框架SLA‑YOLO的推理阶段；采用切片辅助推理SAHI提升检测效果，即将训练好的T‑YOLO模型对图像推理时采用图像切片处理ISP；在每一张切片图像Pi上进行一次检测，i＝1,2……t，最后将每张切片图像上的缺陷推理结果拼接在一起，实现一种面向工业缺陷检测场景下的微小目标检测，保证实时处理速度的同时更好地完成检测任务。