一种基于机器视觉的芯片检测方法、装置、设备及介质

本申请涉及一种基于机器视觉的芯片检测方法、装置、设备及介质，一种基于机器视觉的芯片检测方法包括基于机器视觉技术，获取对应的工件轮廓特征；确定对应的第一最小外接矩形，以及第一最小外接矩形的矩形尺寸数据；确定对比阈值，计算出矩形尺寸数据与预设的标准工件尺寸数据的对比数据，判断对比数据是否超过对比阈值，若否，则确定对应待测工件为合格工件；若是，则确定对应待测工件为残缺工件，提取出对应的芯片轮廓特征，根据芯片轮廓特征确定对应的最优切割路径；能够自动检测工件完整性，减少人工误判，同时智能化优化切割策略，最大化晶圆的利用价值。