一种用于嵌入式系统的算力测试方法及系统

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推荐专利
一种用于嵌入式系统的算力测试方法及系统
申请号:CN202510650999
申请日期:2025-05-20
公开号:CN120563972A
公开日期:2025-08-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种用于嵌入式系统的算力测试方法及系统,通过理论算力和峰值算力测试进行嵌入式智能计算系统测试,提出了峰值计算方法,通过计算算力测试模型的峰值算力和算力利用率获取测试结果,明确深度学习算法与硬件平台的适配要求,本方法通过性能评估与基准测试,帮助量化系统的计算能力,为嵌入式智能系统核心处理器的选型提供依据,通过航天测试嵌入式智能硬件平台的峰值算力,对于深度学习算法的优化与精简提供设计基线,有助于航天嵌入式设备智能化的发展,有利于后期算法的开发与设计,指导航天嵌入式设备中的软硬件优化,合理分配计算资源,确保嵌入式设备在高计算负载的情况下稳定运行,为智能嵌入式系统设计提供支撑。
技术关键词
测试方法 嵌入式智能 嵌入式设备 智能嵌入式系统 深度学习算法 峰值计算方法 理论 阵列结构 硬件平台 算法模型 处理器 量化系统 可读存储介质 航天 智能芯片 计数器 输出特征 终端设备 存储器
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