一种基于受限区域生长的光条纹恢复及聚类匹配方法

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一种基于受限区域生长的光条纹恢复及聚类匹配方法
申请号:CN202510655285
申请日期:2025-05-21
公开号:CN120495698A
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于受限区域生长的光条纹恢复及聚类匹配方法,属于计算机视觉测量技术领域。包括步骤1:获得两个相机视角下被测物体的感兴趣区域分割后的条纹投影图像;步骤2:获取二值条纹图像;步骤3:通过连通域分析提取二值条纹图像的条纹中心线,得到每个条纹的种子点坐标;步骤4:得到条纹点坐标数据;步骤5:根据步骤4恢复得到的条纹点坐标数据,计算条纹的质心坐标,并对左视图和右视图中条纹进行编号;步骤6:对比左右视图中条纹数量,如果不匹配,则增加区域生长的半径,并重新执行步骤4和步骤5,直到左右视图条纹数量匹配。本发明能够有效应对光条纹图像中的噪声、断裂和变形问题,避免多线激光条纹误匹配的问题。
技术关键词
条纹投影图像 区域生长算法 坐标 受限 像素点 种子 物体 多线激光器 阈值化方法 结构光条纹 感兴趣 中心线 幅值 条纹形状 封闭轮廓 图片
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