基于大尺寸光斑的光栅干涉测量装置及测量方法

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基于大尺寸光斑的光栅干涉测量装置及测量方法
申请号:CN202510656288
申请日期:2025-05-21
公开号:CN120274676A
公开日期:2025-07-08
类型:发明专利
摘要
本发明涉及光学测量技术领域,尤其涉及基于大尺寸光斑的光栅干涉测量装置及测量方法。该装置包括光源模块,采用稳定性高的激光光源,激光光源包括波长锁定装置;准直扩束模块,光源模块连接;分光模块,采用偏振分光棱镜与λ/4波片组合结构;参考光栅模块,包括参考光栅和三维精密调节平台;测量光栅模块,包括测量光栅和自适应高度调节机构;成像模块,包括大视场远心成像透镜组和高速CMOS图像传感器;数据处理模块。本发明通过准直扩束模块实现大面积物体表面一次性测量,提高效率,减少局部干扰误差,采用稳定激光光源与合理设计模块,减少环境影响,优化光学设计降低像差,实现自动化智能化测量,提升便捷性与效率。
技术关键词
光栅 相位解包裹算法 大尺寸 数据处理模块 噪声抑制滤波器 分光模块 波长锁定装置 光源模块 CMOS图像传感器 激光光源 压电陶瓷驱动器 柔性铰链结构 待测物体 光束 成像模块 干涉条纹图像 光斑 测量方法 激光测距传感器
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