一种芯片内部电路老化检测电路

本发明公开了一种芯片内部电路老化检测电路，涉及芯片检测技术领域，包括电源模块，进行功率调节，由输入检模块配合第二判断模块对输入芯片模块的信号进行压降检测，在输入异常时，检测控制模块配合阻止检测模块和第一判断模块检测芯片模块的总阻值情况，继而判断出芯片模块是否发生老化和老化程度，在达到最大老化程度时，进行断电保护并断开输入到芯片模块的信号通路，微控制模块可根据芯片模块输出的脉冲信号的类型，控制输出检测模块进行脉冲转换、移相、移相叠加和叠加电位检测，并根据叠加后的电位判断信号是否出现波动，判断芯片模块的工作状态。本发明芯片内部电路老化检测电路可提高对芯片模块老化检测精度和电路的安全性。