一种测试数据的存储方法

本申请公开了一种测试数据的存储方法，属于芯片生产制造技术领域，测试数据的存储方法包括：提供一待测晶圆，待测晶圆上有多个待测晶粒，每一待测晶粒包括多个发光通道；对待测晶圆执行晶圆级测试，获得待测晶圆的测试数据；其中，晶圆级测试的顺序为对一个待测晶粒的所有发光通道依次测试完后，切换至下一待测晶粒；以及对测试数据进行存储；其中，存储的测试数据带有各发光通道在其所属待测晶粒上的位置标签。如此，在芯片通道众多的情况下，通过将各通道的晶圆性能测试数据与各通道在其所属待测晶粒上的位置标签进行关联后进行存储，以使测试数据清晰、便于查找，同时也提高了测试数据的存储精度。