一种基于SiC基底的智能温控加热平台及芯片加工方法

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正文
推荐专利
一种基于SiC基底的智能温控加热平台及芯片加工方法
申请号:CN202510661584
申请日期:2025-05-22
公开号:CN120196150B
公开日期:2025-12-05
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片加工技术领域,公开了一种基于SiC基底的智能温控加热平台及芯片加工方法。所述方法包括:对SiC基底温度分布特性进行建模,得到三维温度场分布模型;执行温度参数分析,得到SiC基底表面温度分布参数集;进行热区分析,得到加热单元贡献度系数矩阵和目标热区分布图;计算功率分配值,得到加热功率设定矩阵;对加热功率设定矩阵执行四阶段分级控制,得到平稳过渡控制曲线;实施递进式温控策略,得到满足SiC基底芯片加工精度要求的全局温度控制参数,本发明实现了从室温到工艺温度的平稳过渡,无需额外预热设备,为SiC基底提供稳定的加工温度环境,降低了能源消耗,实现SiC基底芯片加工过程的能源高效利用。
技术关键词
加热单元 三维温度场 智能温控 基底 矩阵 功率 参数 温控结构 阶段 有限元分析系统 加热平台 曲线 芯片加工过程 调控系统 分布特征 热点 三维模型 坐标
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