基于无监督特征学习的X射线多衬度图像融合表征方法

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基于无监督特征学习的X射线多衬度图像融合表征方法
申请号:CN202510672065
申请日期:2025-05-23
公开号:CN120198301B
公开日期:2025-08-22
类型:发明专利
摘要
本发明涉及基于无监督特征学习的X射线多衬度图像融合表征方法,属于深度学习以及X射线多衬度成像技术领域。所述方法包括:获取X射线光栅成像的吸收、相位、暗场衬度计算机断层图像;构建基于无监督特征学习的生成对抗网络模型;训练基于无监督特征学习的生成对抗网络模型;使用已训练的模型对吸收、相位、暗场衬度计算机断层图像进行融合获取融合图像,使用融合的图像对被检物体进行表征。本发明实施例相比现有的X射线光栅多衬度成像技术,能够较好地利用X射线光栅差分相衬成像同时能产生三种不同衬度图像的优势,对三种衬度图像进行融合表征。
技术关键词
无监督特征学习 X射线光栅 计算机断层图像 表征方法 相位光栅 生成对抗网络模型 条件生成对抗网络 代表 注意力机制 成像技术 网络架构 Adam算法 相衬成像 模块 通道 X射线源
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