一种光模块自动测试方法、装置、计算机设备及存储介质

AITNT
正文
推荐专利
一种光模块自动测试方法、装置、计算机设备及存储介质
申请号:CN202510675257
申请日期:2025-05-23
公开号:CN120389796A
公开日期:2025-07-29
类型:发明专利
摘要
本发明实施例公开了一种光模块自动测试方法、装置、计算机设备及存储介质,涉及光模块测试技术领域。所述方法包括:采集待测光模块的标签图像,基于预训练的第一神经网络模型根据所述标签图像确定所述待测光模块的型号信息;基于所述待测光模块的型号信息从预设的光模块测试项目知识库中确定所述待测光模块的测试项目;采集所述测试项目的测试环境的环境参数,基于预训练的第二神经网络模型根据所述环境参数确定所述测试项目的测试参数;基于所述测试参数对所述待测光模块执行所述测试项目。相比于人工方式,本发明具有效率高及准确率高的优点。
技术关键词
测光模块 神经网络模型 自动测试方法 光模块自动测试 计算机设备 接收灵敏度测试 图像 误码率测试 参数 标签 人工方式 处理器 光功率 可读存储介质 存储器 数据
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号