一种MiniLED灯板针痕缺陷检测方法及其系统

本发明公开了一种MiniLED灯板针痕缺陷检测方法及其系统，包括以下步骤：S1、对MiniLED灯板表面图像进行预处理，抑制高频噪声并增强缺陷特征；S2、采用自适应卷积邻接分析法提取缺陷特征，包括：S21、通过可变形自适应卷积核动态调整卷积核形状与尺寸，匹配针痕缺陷的局部形态；S22、对像素点及其邻域进行相关性分析，排除孤立噪声干扰。本发明通过自适应卷积核动态匹配缺陷形态、邻接分析排除孤立噪声、多尺度融合覆盖不同尺寸缺陷，结合小波滤波与并行计算架构，显著提升检测精度与抗干扰能力，实现复杂环境下微小针痕的稳定识别，同时保障高速实时处理，适配多样化的工业场景与材质需求，降低误检漏检率，推动精密制造质检向智能化升级。