适用于镜面与漫反射面三维重建的投影测量装置及方法

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适用于镜面与漫反射面三维重建的投影测量装置及方法
申请号:CN202510683343
申请日期:2025-05-26
公开号:CN120506905A
公开日期:2025-08-19
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种适用于镜面与漫反射面三维重建的投影测量装置及方法,包括投影系统、图像采集相机系统以及计算机控制系统;投影系统用于向待测表面投射编码图案信息;图像采集相机系统用于采集所述投影系统投射的经待测表面反射的图案信息;计算机控制系统,用于标定图像采集相机系统的成像参数,获取图像采集相机系统采集的待测表面的图案信息,并基于成像参数和采集的待测表面的图案信息,生成待测表面的面形。本发明的投影系统采用偏投影系统,使得投影景深完整覆盖复杂的待测表面,同时通过偏轴投影的方式,使得待测表面的镜面反射区域形成的镜面反射光线尽可能的不会进入图像采集相机系统的视场,从而有效避免过曝现象。
技术关键词
相机系统 待测表面 编码图案 计算机控制系统 图像 超短焦投影系统 镜面 控制投影系统 相位展开算法 测量方法 解码算法 相位解包裹算法 彩色条纹编码 格雷码解码 成像 参数 正弦光栅
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