一种存储芯片的数据丢失检测方法及系统

本发明提供了一种存储芯片的数据丢失检测方法及系统，涉及存储芯片技术领域，方法包括：获取存储芯片的地址映射表；结合地址映射表，确定存储芯片中两两存储单元之间的故障耦合强度；结合故障耦合强度，建立与存储单元故障概率相关的不同存储单元之间的故障传播模型；计算故障传播模型的稳态解，并结合信息熵确定存储芯片的潜在故障区域；生成潜在故障区域的差异化检测路径；按差异化检测路径对存储芯片进行检测；按检测到的故障存储单元的检测先后顺序进行依次修复；根据修复失败的故障存储单元数量输出存储芯片的数据丢失检测结果。解决了容易漏检故障链条和耦合效应的问题，提高了检测准确性和检测效率。