一种测试向量生成方法、系统及计算机可读存储介质

本发明提供的一种测试向量生成方法，包括：获取芯片功能测试指令，并解析出功能测试指令包含的任务内容以及任务输入参数；基于所述任务内容选择相应的指令模板，调用所述指令模板，赋值指令寄存器数值，并依据任务输入参数中对应的地址参数和写入/读取数据，得到TDI数据序列以及TDO数据；所述指令模板基于jtag协议、ADI协议以及芯片测试电路的数据传输协议创建得到，所述指令模板关联jtag测试驱动函数；依据指令寄存器数值、TDI数据序列以及TDO数据调用所述jtag测试驱动函数，将功能测试指令内容输出为TDI信号、TCK信号、TMS信号及TDO信号在不同时刻下的组合，本发明还提供了一种测试向量生成系统及计算机可读存储介质。