一种测试接触头的控温装置

本申请涉及一种测试接触头的控温装置，涉及半导体芯片测试设备技术领域。其包括底座和若干测试端，测试端位于底座的底部，测试端用于安装芯片，底座上设有若干控温组件，若干控温组件与测试端一一对应，控温组件用于控制芯片的温度。本申请具有对芯片进行独立控温的效果。