一种RFID标签的性能测试方法及系统

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一种RFID标签的性能测试方法及系统
申请号:CN202510698915
申请日期:2025-05-28
公开号:CN120216938B
公开日期:2025-08-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种RFID标签的性能测试方法及系统,涉及RFID标签性能测试技术领域,该方法包括以下组成部分:S1、数据采集步骤、S2、时间序列分析步骤、S3、预测与预警步骤和S4、自适应优化步骤;本发明通过采用本发明提出的一种RFID标签的性能测试方法,能够实时采集RFID标签在测试过程中的各项性能数据,并按照时间顺序存储形成时间序列数据,随后,运用改进的自适应加权动态时间序列算法对时间序列数据进行分析处理,挖掘标签性能随时间变化的规律和趋势,从而建立更为准确的性能预测模型,此外,该方法还采用了基于小波变换的去噪方法,有效提高了数据质量,进一步提升了预测模型的可靠性。
技术关键词
RFID标签 性能测试方法 性能预测模型 远程监控中心 预警模块 数据采集模块 分析模块 读取成功率 系统运行状态 标签性能测试 射频信号接收器 时间延迟特性 建立数据索引 性能指标信息 时间序列算法 检测磁场强度 数字温度传感器
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