一种系统级芯片的修复测试评估方法、装置及电子设备

本申请公开了一种系统级芯片的修复测试评估方法、装置及电子设备，涉及计算机技术领域，该方法包括：根据当前待运行的测试用例的功能，从系统级芯片包括的多个子系统中筛选出不执行修复测试的目标子系统；在多个子系统中存在不执行修复测试的目标子系统的情况下，获取与目标子系统对应的第一标识信息；根据第一标识信息，调整与目标子系统对应的第一内存修复指示信息，第一内存修复指示信息用于内存修复控制器后续根据第一内存修复指示信息在内存修复过程中不对目标子系统执行修复测试。通过本申请，通过筛选出不执行修复测试的目标子系统，避免对目标子系统进行不必要的内存修复测试，减少测试系统级芯片的时间，提高系统级芯片的验证效率。