基于样本库的取样定位精度的校准方法与系统

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基于样本库的取样定位精度的校准方法与系统
申请号:CN202510703271
申请日期:2025-05-29
公开号:CN120245003B
公开日期:2025-08-22
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于样本库的取样定位精度的校准方法与系统,所述方法包括:控制取样臂装载的取样工具基于预设的初始取样路径开始工作,间隔预设时间获得取样环境的多源状态特征;将多源状态特征归一化处理形成多源状态特征向量,输入至预先训练完成的状态牵引偏差预测模型中,输出位置偏差对,包括取样工具当前所处路径点的位置偏差和目标取样容器的中心位置偏差;基于位置偏差对,动态修正并更新初始取样路径,周期性地监测取样环境,重复预测位置偏差对,直至取样臂定位至目标取样容器中心点位置。由此,提高取样定位校准的效率和准确性。
技术关键词
取样容器 校准方法 偏差 取样工具 取样臂 振动特征 图像采集装置 相机标定参数 神经网络结构 序列 筛选算法 定位校准 训练样本集 动态 校准系统 因子 轮廓提取 理论 模块
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