一种Mini LED封装测试方法及测试设备

本发明公开一种Mini LED封装测试方法及测试设备，包括：利用反向光路追踪技术对Mini LED封装进行光照射获得干涉图样并确定功能敏感区域；向功能敏感区域注入量子点荧光标记物进行多光谱动态监测；对功能敏感区域进行表面等离子体共振光谱扫描获得表面等离子体共振响应数据；根据获得的数据对功能敏感区域进行声波刺激测试获得声学响应数据；利用非线性光学材料层进行补偿测试获得性能衰减预测数据。本发明技术方案实现了对Mini LED封装中微型光学结构的精确检测和性能预测，能够有效识别潜在的早期失效征兆。