芯片读写能力测试设备、方法、可读存储介质和系统

本申请涉及一种芯片读写能力测试设备、方法、可读存储介质和系统。芯片读写能力测试设备与待测芯片电连接，测试设备基于接收到的控制指令，生成并向待测芯片发送控制信号、地址信号和样本数据；控制信号包括时钟选择信号；时钟选择信号为第一选择信号时，获取待测芯片的片上时钟信号并向待测芯片发送控制信号、地址信号、样本数据以及接收读取数据；控制信号包括基于片上时钟信号生成的时钟信号；时钟选择信号为第二选择信号时，向待测芯片发送控制信号、地址信号、样本数据以及接收读取数据；控制信号包括基于待测芯片工作频率生成的时钟信号；通过样本数据和读取数据，确定待测芯片测试结果。采用本设备能够降低成本、提高兼容性。