一种纸基基因芯片点样方法、装置、存储介质及设备

本申请提供一种纸基基因芯片点样方法、装置、存储介质及设备，该方法应用于喷墨式点样系统，喷墨式点样系统从制造执行系统处获取待点样的纸基基因芯片的来料质量控制数据，从该来料质量控制数据中提取出目标芯片特征，将该目标芯片特征输入预先训练好的参数生成模型，由参数生成模型根据芯片特征预测最佳的点样参数，之后根据参数生成模型生成的点样参数，控制喷墨打印头对纸基基因芯片进行点样。如此，利用AI技术根据芯片特性动态调整点样参数，提高点样质量，减少人工干预的需求，从而提升工作效率。