摘要
本发明公开了一种DDR的动态ECC纠错方法及装置,解决了现有技术中当前内存中配置的ECC纠错机制纠错能力不足的问题;该方法包括:获取内存当前的错误比特信息,确定错误比特信息所处的生命周期阶段,进而得到电压调整步长;基于电压调整步长动态获取不同步长电压下的错误比特信息,并得到错误类型;基于错误类型及错误比特信息,动态选择匹配的纠错算法;当检测到内存当前的错误类型发生变化或当前的错误比特信息超过当前纠错算法的纠错能力阈值时,将当前纠错算法升级至高阶的纠错算法;该方法实现了在内存不同的生命周期内,动态选择与错误类型相匹配的ECC算法,覆盖更多的错误类型,提高内存纠错的能力。
技术关键词
纠错算法
纠错方法
配置子系统
动态
ECC算法
电压
可重构逻辑电路
切换控制器
浴盆曲线
可编程逻辑门阵列
内存
冗余校验
置信传播算法
支持向量机模型
生成校验码
生成多项式
生成码字