一种测试装置及其制备方法

本发明涉及测试设备技术领域，具体公开了一种测试装置及其制备方法，该测试装置包括底座组件和上盖组件；底座组件包括PCB板、探针固定座、底座散热块、固定铜块和芯片固定座；探针固定座设于PCB板上，探针固定座上设置有若干个PIN针，若干个PIN针的一端连接于PCB板；芯片固定座设于探针固定座上，且底座散热块设于探针固定座和芯片固定座之间，固定铜块设于探针固定座和底座散热块之间；上盖组件能够盖设于芯片固定座，并压接于芯片本体。本发明通过底座散热块的直接接触散热和固定铜块的辅助传导散热，能够快速降低PIN针的温度，避免快速升温导致出现的高温报警，烧坏PIN针，甚至烧坏内部电路的情况。