基于环境模拟的半导体性能检测系统

本发明公开了基于环境模拟的半导体性能检测系统，涉及了半导体检测技术领域，包括：环境模拟模块，用于获取环境模拟信息，基于环境模拟信息配置进行半导体检测的仿真模拟环境，参数遍历模块，与环境模拟模块连接，用于对仿真模拟环境进行实时的环境参数遍历，筛选出影响半导体性能检测的负面环境参数并进行替换，集成控制模块，与参数遍历模块连接，用于控制机械臂对半导体在仿真模拟环境下进行自动化集成控制，数据分析模块，与集成控制模块连接，用于对自动化集成控制完成后的半导体进行性能评估，基于评估结果对半导体进行分区存放。本发明能够通过环境模拟的方式，对半导体进行性能检测，实现了不同性能对应半导体的区分。