一种用于射频开关芯片的测试仪

本发明涉及芯片测试仪技术领域，具体为一种用于射频开关芯片的测试仪，所述转动平台上安装有夹持组件，所述夹持组件包括有螺纹杆，所述螺纹杆上滑动安装有两组夹持块，两组所述夹持块上安装有伸缩杆，所述伸缩杆一端安装有密封盖，所述密封盖一侧转动连接有第一存储箱，所述第一存储箱一侧固定安装在转动平台上，本发明的目的是：通过螺纹杆带动两组夹持块相对移动的同时，两组夹持块带动伸缩杆通过连接杆进行角度调节，伸缩杆带动密封盖闭合在转动平台上，使得转动平台检测环境处于密封状态，密封环境能有效减少一些自然环境中存在的气体和颗粒污染或电磁干扰等，可显著提升射频开关芯片的测试精度、可靠性和检测效率。