一种存储器读写一致性测试方法及系统

本发明公开了一种存储器读写一致性测试方法及系统，涉及存储器测试技术领域。包括有：S1：进行串扰耦合建模：根据所述量子隧穿电流曲线和三维寄生参数矩阵，构建层间串扰耦合传递函数；S2：构建三维失效概率模型：获取平面耦合错误分布图，并根据所述层间串扰耦合传递函数，生成层间串扰系数矩阵；S3：标识电磁耦合热点区域：根据所述三维失效概率，确定出每个区域的风险等级，并根据所述风险等级，设置测试参数，并通过所述测试参数，对待测存储器进行读写测试。本发明实现了跨层干扰的三维量化建模，使得检测范围从平面扩展至立体结构，解决了传统方法对层间电磁耦合的盲区。