用于表面缺陷检测的打光方案自主寻优方法、系统及介质

本发明涉及机器视觉与工业质检技术领域，尤其涉及一种用于表面缺陷检测的打光方案自主寻优方法、系统及介质，该方法包括步骤：S1，基于预设的打光参数分级规则，采集检测数据来构建缺陷‑打光序列数据库；S2，分割图像并评价，基于决策树构建各类型缺陷与打光参数序列的映射关系模型；S3，基于各类型缺陷与打光参数序列的映射关系模型，采用智能优化算法寻优打光方案；S4，基于所述步骤S3得到的光源参数序列对应的打光方案指导实际的工业缺陷检测任务。解决了现有打光方案依赖人工操作，效率低下的问题，以自动确定最优的打光方案，减轻人力负担并提高缺陷检测的准确性和稳定性。