摘要
本申请公开了基于X光的杂粮异物检测系统及方法,涉及X射线检测技术领域,解决了现有的X光杂粮异物检测中对特殊异物的识别准确度较低的技术问题;包括:获取第一图像组,所述第一图像组包含若干待检测杂粮的X光图像;提取第一图像组中的X光图像,对各个X光图像进行分割得到若干第二图像组,所述第二图像组为第一图像中单个被识别物的图像;基于若干第二图像组进行异物识别得到识别结果;所述异物识别包括动态识别和静态识别;根据X光图像的特征对杂粮进行动态识别和静态识别,从杂粮的形态和成像灰度特征,以及随X光的成像的变化特征,对被识别物进行综合性的识别分析,最终确定被识别物为杂粮还是异物,增加了异物识别的准确性。
技术关键词
杂粮
异物检测方法
图像
异物检测系统
灰度特征
人工智能模型训练
生成特征
参数
特征向量库
数据分析模块
X射线检测技术
X光检测设备
数据采集模块
标记
动态
分布特征
成像
综合性
系统为您推荐了相关专利信息
线路板
图像特征向量
特征值集合
多模态
反射光谱数据
循环冗余校验数据
图像显示方法
处理单元
参数
芯片系统
故障检测系统
电流实时监测
深度学习分析
无人巡检
数据融合分析单元
损伤识别模型
初始轮廓
地标
模型框架构建
识别方法