基于X光的杂粮异物检测系统及方法

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基于X光的杂粮异物检测系统及方法
申请号:CN202510722335
申请日期:2025-05-30
公开号:CN120629223A
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本申请公开了基于X光的杂粮异物检测系统及方法,涉及X射线检测技术领域,解决了现有的X光杂粮异物检测中对特殊异物的识别准确度较低的技术问题;包括:获取第一图像组,所述第一图像组包含若干待检测杂粮的X光图像;提取第一图像组中的X光图像,对各个X光图像进行分割得到若干第二图像组,所述第二图像组为第一图像中单个被识别物的图像;基于若干第二图像组进行异物识别得到识别结果;所述异物识别包括动态识别和静态识别;根据X光图像的特征对杂粮进行动态识别和静态识别,从杂粮的形态和成像灰度特征,以及随X光的成像的变化特征,对被识别物进行综合性的识别分析,最终确定被识别物为杂粮还是异物,增加了异物识别的准确性。
技术关键词
杂粮 异物检测方法 图像 异物检测系统 灰度特征 人工智能模型训练 生成特征 参数 特征向量库 数据分析模块 X射线检测技术 X光检测设备 数据采集模块 标记 动态 分布特征 成像 综合性
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