基于缺陷检测的样本生成方法、设备及存储介质

本申请适用于缺陷检测技术领域，提供了一种基于缺陷检测的样本生成方法、设备及存储介质，该方法包括：获取目标产品的原始图像和语义指示信息，语义指示信息用于指示缺陷类型；基于原始图像和目标检测模型，确定原始图像中的检测区域并生成检测区域图像；基于检测区域图像，在检测区域中确定目标区域并生成目标区域掩码图像；基于检测区域图像、目标区域掩码图像、语义指示信息及缺陷样本生成模型，生成目标产品的缺陷样本图像。本实施例提供的技术方案，充分考虑了用户对于生成缺陷的需求以及生成缺陷的目标区域，提高了缺陷样本图像的精准度；并且在生成缺陷样本图像的过程中无需进行参数调优，提高了缺陷样本的生成效率。