基于快速特征融合的磁粒子高分辨率重建方法

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推荐专利
基于快速特征融合的磁粒子高分辨率重建方法
申请号:CN202510726662
申请日期:2025-06-03
公开号:CN120235980B
公开日期:2025-10-21
类型:发明专利
摘要
本发明属于磁粒子成像领域,具体涉及一种基于快速特征融合的磁粒子高分辨率重建方法,旨在解决现有磁粒子重建方法系统矩阵校准缓慢、重建的磁粒子图像分辨率较低、信噪比有限等问题。本方法包括:采集使用标准粒子样本生成的系统矩阵,作为低分辨率系统矩阵;采集待成像仿体的电压信号;将低分辨率系统矩阵输入训练好的快速特征融合Transformer模型,得到高分辨率系统矩阵;基于电压信号,对高分辨率系统矩阵进行重建,得到高分辨率MPI图像。本发明通过对系统矩阵进行快速超分进而提高MPI图像的分辨率,避免系统矩阵重建中繁琐耗时的校准,此外,能够对任意系统矩阵进行分辨率和信噪比提升,而无关于系统矩阵的扫描方式。
技术关键词
高分辨率重建方法 高分辨率系统 注意力 融合卷积神经网络 高分辨系统 全局特征融合 模块 积层 磁粒子成像 矩阵恢复 特征提取器 sigmoid函数 通道 条纹 全局特征提取 捕获特征
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