功能覆盖率的处理方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种功能覆盖率的处理方法、电子设备和介质，方法包括步骤S1、基于待测芯片设计运行回归测试中的测试用例，获取每一功能覆盖对象对应的文本信息；步骤S2、获取每一功能覆盖对象对应的芯片层次信息、功能覆盖率类型、回归测试序号、回归测试时间和命中结果；步骤S3、生成每一功能覆盖对象对应的元数据，并存储至预设的脚本文件中；步骤S4、解析预设的脚本文件中的元数据，生成第一数据库、第二数据库和第三数据库；步骤S5、基于第一数据库、第二数据库、第三数据库呈现功能覆盖率的形态。本发明提高了功能覆盖率的处理效率，减少了功能覆盖率的处理过程中的资源消耗。