芯片测试成功率分析方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种芯片测试成功率分析方法、电子设备和介质，方法包括S1、获取运行日志文本信息；S2、按照从前往后的顺序读取G1行文本信息；S3、判断是否存在未读取文本行，若存在，则执行S4，否则，将当前读取的G1行文本信息作为当前待分析文本，执行S5；S4、按照从后往前的顺序读取G2行文本信息，作为当前待分析文本，执行S5；S5、逐行扫描当前待分析文本，若出现预设失败文本标识，则确定为不通过，执行S7，否则，执行S6；S6、判断是否存在未读取文本行，若存在，返回执行S4，否则，确定结果为通过，执行S7；S7、确定芯片测试成功率。本发明提高了芯片测试成功率分析过程中系统的性能。