测试用例运行结果分析方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种测试用例运行结果分析方法、电子设备和介质，方法包括步骤S1、获取测试用例tx对应的运行日志信息；步骤S2、解析tx对应的运行日志信息，获取tx对应的运行日志信息中存在的所有预设失败文本标识所在的位置信息集合Utx；步骤S3、遍历Utx中每一Ukx，判断是否存在预设配置文件中设置的存在预设失败文本标识的情况，若存在，则将Ukx从Utx中删除，若不存在，则保留Ukx，若处理后的Utx为空，则确定tx运行结果为通过，否则，确定tx运行结果为不通过。本发明提高了测试用例运行结果分析的准确性。