芯片回归测试方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种芯片回归测试方法、电子设备和介质，方法包括步骤S1、获取待测芯片设计代码和目标测试用例重构信息；步骤S2、基于目标测试用例重构信息生成芯片回归测试所需测试用例；步骤S3、将待测芯片设计代码进行编译，生成待测芯片设计可执行文件；步骤S4、基于待测芯片设计可执行文件并行运行芯片回归测试所需测试用例，生成测试用例运行记录；步骤S5、基于测试用例运行记录生成芯片回归测试数据库，基于芯片回归测试数据库显示芯片回归测试结果。本发明提高了芯片回归测试效率和准确性。