基于待测设计配置的芯片回归测试方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种基于待测设计配置的芯片回归测试方法、电子设备和介质，本发明通过设置芯片回归测试启动参数以及预先构建的测试用例重构信息自动化生成每一待测设计配置对应的测试用例，并将需要记录历史信息的回归测试准备过程及运行过程的测试用例状态记录在数据库中，并基于用户标识、待测设计标识对应的历史回归测试信息以及当前机器负载优化每一待测设计配置分配对应的资源配置，提高了芯片回归测试效率和准确性。