电子元件性能数据监测方法及系统

本发明公开了电子元件性能数据监测方法及系统，包括：基于电子元件的工作历史数据，输入LSTM神经网络模型进行训练，构建电子元件性能预测模型；将当前电子元件表面温度场分布数据、局部放电特征量及漏电流动态参数输入电子元件性能预测模型中，获取未来时间段内电子元件性能的多种预测变化趋势函数；将其与实时采集获取的电子元件性能实际数据进行比对，计算误差值，获取其中误差最小的预测数据；进行动态误差分析，生成模型修正参数；对电子元件性能预测模型进行在线参数更新，形成闭环优化系统。本发明的优点在于：通过对比预测模型和多维度实时数据，精准预测电子元件的性能变化，通过闭环优化机制，确保电子元件的长期稳定性和可靠性。