摘要
本发明公开了一种VCSEL芯片金属蚀刻方法,涉及蚀刻技术领域,本发明为了避免干法蚀刻后的粗糙度问题,对VCSEL芯片金属蚀刻方法进行了改进,本发明首先对VCSEL芯片外延片使用正性光刻胶作为掩膜,对其表面曝光后,干法蚀刻对外延片表面进行初步蚀刻,在干法蚀刻时,本发明使用了BCl2与Cl2作为蚀刻气体,并加入氮气从而诱导生成钝化层,防止生成横向蚀刻,并在这一基础上使用了蚀刻液对VCSEL芯片外延片进行蚀刻平整,利用高锰酸钾对蚀刻不平整区域进行氧化后,便于磷酸的蚀刻,并且为了避免出现氧化性过强出现氧化斑的缺陷,本发明还对高锰酸钾含量进行了严格限制,实现对经干法蚀刻后VCSEL芯片外延片的平整处理,有效提升了VCSEL芯片蚀刻质量。
技术关键词
金属蚀刻方法
VCSEL芯片
外延片表面
蚀刻气体
电感耦合等离子体
去离子水
乙烯基三乙氧基硅烷
磷酸
干法
蚀刻液
酚醛树脂
正性光刻胶
丙酮
蚀刻技术
超声波清洗
萘醌