一种多工位的自动化芯片测试设备

本发明公开了一种多工位的自动化芯片测试设备，涉及芯片测试设备技术领域，包括机体和移动槽，所述机体的上侧面固定连接有工作台，所述工作台的一端安装有机架，所述移动槽开设在工作台的表面。该多工位的自动化芯片测试设备，同步平移机构可以快速平稳地将芯片输送到激光检测组件的下方，并且多个齿轮和螺杆的设置，只采用一个电机，就能使得多个工位的芯片同时移动，降低了能耗，有利于提高芯片测试设备的检测效率，在同步平移机构运行时，导向机构、横移槽和斜槽可带动承托台平移并斜向上升，使得承托台进入防护罩内，防护罩可以有效阻挡外部光线干扰，确保激光测试灯发出的光束不受外部环境光的影响，从而提高检测的准确性和稳定性。