存储器测试装置、三维堆叠存储器芯片及存储器测试方法和系统

本发明提供一种存储器测试装置、三维堆叠存储器芯片和存储器测试方法及测试系统，在存储器测试装置中内嵌内建自测试（BIST）测试流程、第一至第三配置寄存器，由此在测试主机上只需施加规定的测试激励，即可自动化地实现对该三维堆叠存储器芯片相应的功能参数的测试，且测试时，功能参数、测试方向和测试模式的切换，只需要调整第一至第三配置寄存器中的配置值即可实现，由此，优化了存储器的功能参数的测试流程，极大地节省了测试时间和测试成本。