基于多粒度自编码器的工业产品缺陷检测系统和方法

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基于多粒度自编码器的工业产品缺陷检测系统和方法
申请号:CN202510734846
申请日期:2025-06-04
公开号:CN120635019A
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于多粒度自编码器的工业产品缺陷检测系统和方法,属于产品检测领域,系统包括业务层和显示层,业务层包括:重构模块,分别利用三个自编码器以及其对应的解码器,对输入的产品图像进行空间粒度、特征粒度和颜色粒度的数据重构,得到每个粒度的重构误差矩阵;融合模块,融合每个粒度的重构误差矩阵,获取综合重构误差图;缺陷检测与定位模块,对综合重构误差图进行阈值分割,超过设定阈值的像素初步标定为缺陷区域,并利用定位算法对初步标定的缺陷区域进行缺陷边界的精确获取;显示层,将缺陷区域映射为异常热力图,并与原始输入图像叠加后显示。本发明能够提取复杂缺陷特征,提高特征表达质量,同时精确定位和展示缺陷。
技术关键词
工业产品缺陷检测 重构误差 编码器 残差金字塔 图像 重构模块 定位算法 解码器 矩阵 颜色 多分支 热力图 定位模块 注意力 区域生长算法 像素 存储工业 存储计算机程序
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