测试范围生成方法、电子设备、存储介质与产品

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测试范围生成方法、电子设备、存储介质与产品
申请号:CN202510739065
申请日期:2025-06-04
公开号:CN120631765A
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种测试范围生成方法、电子设备、存储介质与产品,涉及软件测试技术领域,包括:提取待测试代码与旧版本代码之间的差异信息;通过预设大语言模型解析差异信息在待测试代码对应目标调用链路下的传播路径,并基于传播路径生成差异信息关联的目标应用场景,根据目标应用场景生成测试范围,其中,测试范围由测试场景组成,测试场景包括待验证的目标应用场景,目标应用场景为待测试代码中易发生缺陷的功能或界面。本申请解决了测试范围确定不准确的技术问题。
技术关键词
生成方法 大语言模型 测试场景 节点 链路 计算机程序产品 软件测试技术 电子设备 代码仓库 处理器 实质性 可读存储介质 存储器 界面 入口 频率 层级 分支
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