基于紧支径向基函数稀疏表征的电磁涡流缺陷成像方法

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基于紧支径向基函数稀疏表征的电磁涡流缺陷成像方法
申请号:CN202510739971
申请日期:2025-06-04
公开号:CN120427733A
公开日期:2025-08-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于紧支径向基函数稀疏表征的电磁涡流缺陷成像方法,获取不同激励组合的涡流响应信号,采用紧支径向基函数稀疏表征算法实现缺陷的三维重构;设置稀疏表征基函数的位置,通过紧支径向基函数对电导率分布进行稀疏表征;将涡流响应信号输入紧支径向基函数稀疏表征算法,得到紧支径向基函数稀疏表征的缺陷重建目标函数;通过SART算法根据测量值迭代求解拟合系数向量求解目标函数,根据迭代过程前后两次重建结果的偏差是否小于阈值判断缺陷重建是否收敛;通过对紧支径向基函数的系数进行多次迭代更新输出最终的缺陷重建结果,获取缺陷信息。本发明无需借助机械扫描装置,仅通过计算成像的方式,即可获取金属构件近表面缺陷的分布信息。
技术关键词
涡流传感器 灵敏度矩阵 缺陷成像方法 线圈 判断缺陷 迭代方法 网格 缺陷成像系统 机械扫描装置 基元 数值 滤波算法 信号 电磁 阵列 全覆盖 因子
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