摘要
本发明公开了一种γ射线的能谱与偏振度集成测量方法,属于γ射线测量技术领域。本发明先获取待测γ射线经康普顿散射产生的散射γ射线的空间分布测量结果,然后确定γ射线的能谱和偏振度与散射γ射线的空间分布之间的响应函数,从而根据空间分布测量结果和响应函数,构建待测γ射线的能谱和偏振度与空间分布测量结果之间的方程组并求解,得到待测γ射线的能谱与偏振度。本发明只需获取待测γ射线经康普顿散射产生的散射γ射线的空间分布测量结果,基于康普顿散射原理,通过逆向解算能够快速准确的间接同时测得待测γ射线的能谱与偏振度。
技术关键词
集成测量方法
射线
线偏振
密度
半导体探测器
正则化算法
最小化误差
蒙特卡罗
探测系统
误差函数
闪烁体
遗传算法
成像
坐标
数值
参数