摘要
本公开实施例提供了一种半导体结构的制造方法,方法包括:提供第一衬底,并在第一衬底上形成预解键合结构;在第一衬底上形成多个第一芯片以及第一互连结构,第一芯片之间包括切割道区域,第一互连结构位于切割道区域内;其中,预解键合结构的正投影位于切割道区域的正投影范围内,第一互连结构的正投影位于预解键合结构的正投影范围内;在切割道区域内形成凹槽,凹槽在第一互连结构的周围沿切割道区域的延伸方向延伸,且底部至少暴露部分预解键合结构;去除预解键合结构,以剥离第一互连结构,形成空隙。
技术关键词
互连结构
衬底
半导体结构
湿法刻蚀工艺
介质
芯片
对准标记
凹槽
空隙
切割工艺
波长
激光