半导体结构的制造方法

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正文
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半导体结构的制造方法
申请号:CN202510750269
申请日期:2025-06-05
公开号:CN120637322A
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本公开实施例提供了一种半导体结构的制造方法,方法包括:提供第一衬底,并在第一衬底上形成预解键合结构;在第一衬底上形成多个第一芯片以及第一互连结构,第一芯片之间包括切割道区域,第一互连结构位于切割道区域内;其中,预解键合结构的正投影位于切割道区域的正投影范围内,第一互连结构的正投影位于预解键合结构的正投影范围内;在切割道区域内形成凹槽,凹槽在第一互连结构的周围沿切割道区域的延伸方向延伸,且底部至少暴露部分预解键合结构;去除预解键合结构,以剥离第一互连结构,形成空隙。
技术关键词
互连结构 衬底 半导体结构 湿法刻蚀工艺 介质 芯片 对准标记 凹槽 空隙 切割工艺 波长 激光
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